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圖 " "%穿透法測(cè)耦合差（工件 %%圖 " "&%穿透法測(cè)耦合差（工件
厚度小于試塊）厚度大于試塊）
先用“衰減器”衰減 ’(，將探頭置于試塊上調(diào)好檢測(cè)靈敏度，然后再用“衰減器”增益 ’(（即減少 ’(衰減量），這時(shí)耦合損耗恰好得到補(bǔ)償，試塊和工件上相同反射體回波高度相同。
四、缺陷測(cè)定
（一）、檢測(cè)儀的調(diào)節(jié)在實(shí)際檢測(cè)中，為了在確定的探測(cè)范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷定位和定量，就必須在探測(cè)前調(diào)節(jié)好儀器的掃描速度和靈敏度。 )掃描速度的調(diào)節(jié)儀器示波屏上時(shí)基掃描線的水平刻度值 "與實(shí)際聲程 *（單程）的比例關(guān)系，即 "： +：,稱為掃描速度或時(shí)基掃描線比例。它類似于地圖比例尺，如掃描速度 ：表示儀器示波屏上水平刻度 --表示實(shí)際聲程 --。檢測(cè)前應(yīng)根據(jù)探測(cè)范圍來(lái)調(diào)節(jié)掃描速度，以便在規(guī)定的范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)缺陷并對(duì)缺陷定位。調(diào)節(jié)掃描速度的一般方法是根據(jù)探測(cè)范圍利用已知尺寸的試塊或工件上的兩次不同反射波的前沿分別對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值來(lái)實(shí)現(xiàn)。不能利用一次反射波和始波來(lái)調(diào)節(jié)，因?yàn)槭疾ㄅc一次反射波的距離包括超聲波通過(guò)保護(hù)膜、耦合劑（直探頭）或有機(jī)玻璃斜楔（斜探頭）的時(shí)間，這樣調(diào)節(jié)掃描速度誤差大。下面以縱波為例介紹掃描速度的調(diào)節(jié)方法。 •/.•
第四篇 /飛機(jī)的無(wú)損檢測(cè)
縱波檢測(cè)一般按縱波聲程來(lái)調(diào)節(jié)掃描速度。具體調(diào)節(jié)方法是：將縱波探頭對(duì)準(zhǔn)厚度適當(dāng)?shù)钠降酌婊蚯酌妫箖纱尾煌牡撞ǚ謩e對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。例如探測(cè)厚度為 ""工件，掃描速度為 ：，現(xiàn)利用 %%&試塊來(lái)調(diào)節(jié)。將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊上厚為 ""的底面，調(diào)節(jié)儀器上“水平旋鈕”使底波
“深度微調(diào)”、等旋鈕，
’(、’分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度 )"、""，這時(shí)掃描線水平刻度值與實(shí)際聲程的比例正好為
：。
(*檢測(cè)靈敏度的調(diào)節(jié)
檢測(cè)靈敏度是指在確定的聲程范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品
技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定。可通過(guò)調(diào)節(jié)儀器上的［增益］、［衰減器］、［發(fā)射強(qiáng)度］等
靈敏度旋鈕來(lái)實(shí)現(xiàn)。調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于發(fā)現(xiàn)工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)
缺陷定量。檢測(cè)靈敏度太高或太低都對(duì)檢測(cè)不利。靈敏度太高，示波屏上雜波多，判
傷困難。靈敏度太低，容易引起漏檢。
實(shí)際檢測(cè)中，在粗探時(shí)為了提高掃查速度而又不致引起漏檢，常常將檢測(cè)靈敏度
適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度的基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做搜索靈敏度或掃查
靈敏度。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的常用方法有試塊調(diào)整法和工件底波調(diào)整法兩種。
）試塊調(diào)整法
根據(jù)工件對(duì)靈敏度的要求選擇相應(yīng)的試塊，將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊上的人工缺陷，調(diào)整
儀器上的有關(guān)靈敏度旋鈕，使示波屏上人工缺陷的最高反射回波達(dá)基準(zhǔn)高，這時(shí)靈敏
度就調(diào)好了。
例如，壓力容器用鋼板是利用 )平底孔來(lái)調(diào)整靈敏度的。具體方法是：探頭對(duì)
準(zhǔn) )平底孔，［衰減器］保留一定的衰減余量，“"”調(diào)
［抑制］調(diào)至 ，［增益］使 )平底
孔最高回波達(dá)示波屏滿幅度 +",或 -",，這時(shí)靈敏度就調(diào)好了。
又如，超聲波檢測(cè)厚度為 ""的鍛件，檢測(cè)靈敏度要求是：不允許存在 (平
底孔當(dāng)量大小的缺陷。檢測(cè)靈敏度的調(diào)整方法是，先加工一塊材質(zhì)、表面粗糙度、聲程與工件相同的 (平底孔試塊，將探頭對(duì)準(zhǔn) (平底孔，儀器保留一定的衰減余量，［抑制］調(diào)至 “"”，調(diào)［增益］使 (平底孔的最高回波達(dá)滿刻度的 +",或 -",，這時(shí)檢
測(cè)靈敏度就調(diào)好了。
(）工件底波調(diào)整法
利用試塊調(diào)整靈敏度，操作簡(jiǎn)單方便，但需要加工不同聲程不同當(dāng)量尺寸的試
塊，成本高，攜帶不便。同時(shí)還要考慮工件與試塊因耦合和衰減不同進(jìn)行補(bǔ)償。如果
利用工件底波來(lái)調(diào)整檢測(cè)靈敏度，那么既不要加工任何試塊，又不需要進(jìn)行補(bǔ)償。
利用工件底波調(diào)整檢測(cè)靈敏度是根據(jù)工件底面回波與同深度的人工缺陷（如平
底孔）回波分貝差為定值，這個(gè)定值可以由下述理論公式計(jì)算出來(lái)。
•).(•
"% &’ "% "")（))+,）（-./ .+-）&( *"(式中 )為工件厚度； *(為要求探出的最小平底孔尺寸。利用底波調(diào)整檢測(cè)靈敏度時(shí)，將探頭對(duì)準(zhǔn)工件底面，儀器保留足夠的衰減余量，一般大于 0（1 2/）3’（考慮搜索靈敏度），［抑制］至 “”，調(diào)［增益］使底波 ’/最高達(dá)基準(zhǔn)高（如 45），然后用［衰減器］增益 3’（即衰減余量減少 3’），這時(shí)檢測(cè)靈敏度就調(diào)好了。由于理論公式只適用于 ))+,的情況，因此利用工件底波調(diào)靈敏度的方法也只能用于厚度尺寸 ))+,的工件，同時(shí)要求工件具有平行底面或圓柱曲底面，且底面光潔干凈。當(dāng)?shù)酌娲植诨蛴兴蜁r(shí)，將使底面反射率降低，底波下降，這樣調(diào)整的靈敏度將會(huì)偏高。例如，用 "6 7&"8（"6 79:;"<<直探頭）檢測(cè)厚度 ) -<<的餅形鋼制工件，鋼中 => 7?< @A，檢測(cè)靈敏度為 - @ "平底孔（在 -<<處發(fā)現(xiàn) "平底孔缺陷）。利用工件底波調(diào)整靈敏度的方法如下。（/）計(jì)算。利用理論計(jì)算公式算出 -<<處大平底與 "平底孔回波的分貝差 為
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