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3*3）時，超聲波全透射。因此，實際探傷中耦合劑的聲阻抗，對探頭施加的壓力大小都會影響缺陷回波高度，進而影響缺陷定量。此外，當探頭與調(diào)靈敏度用的試塊和被探工件表面耦合狀態(tài)不同時，而又沒有進行恰當?shù)难a償，也會使定量誤差增加，精度下降。
（.）衰減的影響。實際工件是存在介質(zhì)衰減的，由介質(zhì)衰減引起的分貝差 % .%。可知當衰減系數(shù) 較大或距離 %較大時，由此引起的衰減 也較大。這時如果仍不考慮介質(zhì)衰減的影響，那么定量精度勢必受到影響。因此在探傷晶粒較粗大和大型工件時，應(yīng)測定材質(zhì)的衰減系數(shù) ，并在定量計算時考慮介質(zhì)衰減的影響，以便減少定量誤差。
）試件幾何形狀和尺寸的影響
試件底面形狀不同，回波高度不一樣，凸曲面使反射波發(fā)散，回波降低；凹曲面使反射波束聚焦，回波升高。對于圓柱體而言，外圓徑向探測實心圓柱體時，入射點處的回波聲壓理論上同平底面試件，但實際上由于圓柱面耦合不及平面，因而其回波低于平底面。實際探傷中應(yīng)綜合考慮以上因素對定量的影響，否則會使定量誤差增加。
試件底面與探測面的平行度以及底面的光潔程度、干凈程度也對缺陷定量有較大的影響。當試件底面與探測面不平行、底面粗糙或沾有水跡、油污時將會使底波下降，這樣利用底波調(diào)節(jié)的靈敏度將會偏高，缺陷定量誤差增加。
當探測試件側(cè)壁附近的缺陷時，由于側(cè)壁干涉的結(jié)果而使定量不準，誤差增加。
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側(cè)壁附近的缺陷，靠近側(cè)壁探測回波低，遠離測壁探測反而回波高。為了減少側(cè)壁的影響；宜選用頻率高、晶片直徑大的指向性好的探頭探測或橫波探測。必要時還可采用試塊比較法來定量，以便提高定量精度。
試件尺寸的大小對定量也有一定的影響。當試件尺寸較小，缺陷位于 "以內(nèi)時，利用底波調(diào)靈敏度并定量，將會使定量誤差增加。 ）缺陷的影響
（）缺陷形狀的影響。試件中實際缺陷的形狀是多種多樣的，缺陷的形狀對其回波波高有很大影響。平面形缺陷波高與缺陷面積成正比，與波長的平方和距離的平方成反比；球形缺陷波高與缺陷直徑成正比，與波長的一次方和距離的平方成反比；長圓柱形缺陷波高與缺陷直徑的 %&次方成正比，與波長的一次方和距離的 %&方成反比。
對于各種形狀的點狀缺陷，當尺很小時，缺陷形狀對波高的影響就變得很小。當點狀缺陷直徑遠小于波長時，缺陷波高正比于缺陷平均直徑的三次方，即隨缺陷大小的變化十分急劇。缺陷變小時，波高急劇下降，很容易下降到探傷儀不能發(fā)現(xiàn)的程度。
（&）缺陷方位的影。向。前面談到的情況都是假定超聲波入射方向與缺陷表面是垂直的，但實際缺陷表面相對于超聲波入射方向往往不垂直。因此對缺陷尺寸估計偏小的可能性很大。
（）缺陷波的指面性。缺陷波高與缺陷波的指面性有關(guān)，缺陷波的指向性與缺陷大小有關(guān)，而且差別較大。
垂直入射于圓平面形缺陷時，當缺陷直徑為波長的 &倍 ’倍以上時，具有較好的指向性，缺陷回波較高。當缺陷直徑低于上述值時，缺陷波指向性變壞，缺陷回波降低。
當缺陷直徑大于波長的 倍時，不論是垂直入射還是傾斜入射，都可把缺陷對聲波的反射看成是鏡面反射。當缺陷直徑小于波長的 倍時，缺陷反射不能看成鏡面反射，這時缺陷波能量呈球形分布。垂直入射和傾斜入射都有大致相同的反射指向性。表面光滑與否，對反射波指向性已無影響。因此，探傷時傾斜入射也可能發(fā)現(xiàn)這種缺陷。
（）缺陷表面粗糙度的影響。缺陷表面光滑與否，用波長衡量。如果表面凹凸不平的高度差小于 %波長，就可認為該表面是平滑的，這樣的表面反射聲束類似鏡子反射光束。否則就是粗糙表面。對于表面粗糙的缺陷，當聲波垂直入射時，聲波被亂反射，同時各部分反射波由于有相位差而產(chǎn)生干涉，使缺陷回波波高隨粗糙度的增大而下降。當聲波傾斜入射時，缺陷回波波高隨著凹凸程度與波長的比值增大而增高。當凹凸程度接近波長時，即使入射角較大，也能接收到回波。
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（）缺陷性質(zhì)的影響。缺陷回波波高受缺陷性質(zhì)的影響。聲波在界面的反射率是由界面兩邊介質(zhì)的聲阻抗決定的。當兩邊聲阻抗差異較大時，近似地可認為是全反射，反射聲波強。當差異較小時，就有一部分聲波透射，反射聲波變?nèi)酢Ｋ裕嚰腥毕菪阅懿煌笮∠嗤娜毕莶úǜ卟煌Ｍǔ：瑲怏w的缺陷，如鋼中的白點、氣孔等，其聲阻抗與鋼聲阻抗相差很大，可以近似地認為聲波在缺陷表面是全反射。但是，對于非金屬夾雜物等缺陷，缺陷與材料之間的聲阻抗差異較小，透射的聲波已不能忽略，缺陷波高相應(yīng)降低。另外，金屬中非金屬夾雜的反射與夾雜層厚度有關(guān)，一般地說，層厚小于 "波長時，隨層厚的增加反射相應(yīng)增加。層厚超過 "波長時，缺陷回波波高保持在一定水平上。
（%）缺陷位置的影響。缺陷波高還與缺陷位置有關(guān)。缺陷位于近場區(qū)時，同樣大小的缺陷隨位置起伏變化較大，定量誤差大。所以，實際探傷中總是盡量避免在近場區(qū)探傷定量。
（六）非缺陷回波的判別超聲檢測中，示波屏上常常除了始波 &、底波 ’和缺陷波 (外，還會出現(xiàn)一些其他的信號波，如遲到波、三角反射波、 %")反射波以及其他原因引起的非缺陷回波，影響對缺陷波的正確判別。因此，分析了解常見非缺陷回波產(chǎn)生的原因和特點是十分必要的。 "）遲到波當縱波直探頭置于細長（或扁長）工件或試塊上時，擴散縱波波束在側(cè)壁產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換為橫波，此橫波在另一側(cè)面又轉(zhuǎn)換為縱波，最后經(jīng)底面反射回到探頭，被探頭接收，從而在示波屏上出現(xiàn)一個回波。由于轉(zhuǎn)換的橫波聲程長，波速小，傳播時間較直接從底面反射的縱波長，因此轉(zhuǎn)換后的波總是出現(xiàn)在第一次底波 ’"之后，故稱為遲到波。又由于變型橫波可能在兩側(cè)壁產(chǎn)生多次反射，每反射一次就會出現(xiàn)一個遲到波，因此遲到波往往有多個。由于遲到波總是位于 ’"之后，并且位置特定，而缺陷波一般位于 ’"之前，不會干擾缺陷波的判別。實際探傷中，當直探頭置于 **+或 ,-. /*0試塊上并對準 "1122厚的底面時，在各次底波之間出現(xiàn)一系列的波就是這種遲到波。
3）三角反射波
縱波直探頭徑向探測實心圓柱體時，由于探頭平面與柱面接觸面積小，使波束擴散角增加，這樣擴散波束就會在圓柱面上形成三角反射路徑，從而在示波屏上出現(xiàn)三角發(fā)射波，人們把這種反射稱為三角反射。
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飛機檢測與維修實用手冊 2(71)
